铰链防尘与内屏抗弯折是iPhone Duo耐用测试中暴露的两个核心短板，在以暴力测试闻名的博主JerryRigEverything的整套耐久验证中，这台标称IP68防尘等级的折叠旗舰未能通过，成为其七年折叠屏测试历程里少数未达通过标准的产品。

　　一、防尘环节：IP68标称与实际表现存在差距

　　铰链进尘：尽管官方标注IP68级防尘能力，测试中大量沙尘仍从铰链多处缝隙进入机身内部。

　　磁吸失效：灰尘侵入开合结构区域后，负责保持机身闭合的磁铁功能失效，手机无法正常合拢。

　　结构推测：有博主分析，铰链护盖处经10万次折叠仍光亮无粉末渗出，可能与IP68把粉尘关在内部、零件公差控制精细有关，但未拆机无法确认。

　　二、弯折测试：反向施压致内屏永久损伤

　　中框形变：将完全展开的机身反向施压后，中框随即发生形变。

　　绿线与失灵：7.6英寸内屏出现永久性绿线，随后彻底失去触控响应，整机无法正常使用。

　　抗刮分化：外屏采用第二代超瓷晶面板，莫氏硬度7级才现明显划痕；内屏抗刮仅达莫氏硬度2级，但哑光纳米纹理涂层能让细微划痕在视觉上几乎不可见。

　　三、折叠次数测试：7.5万次后出现异常

　　波兰博主实测：前75000次折叠无明显问题，随后埋入冰块做低温测试，取出展开放到桌面时内屏出现不可逆横向亮线。

　　周期换算：按每天折叠50至100次计算，7.5万次对应的使用周期远不止一个月，博主认为损坏时间点过早。

　　人力变量：有评测指出，机器折叠动作过于标准、缺少变量，而人手的真实折叠力度和角度多种多样，这也是专门翻折机器测不出某些问题的原因。