【#X射线以创纪录精度观测微芯片#】#科技新突破# 一国际科研团队首次使用X射线，以4纳米超高精度观测了先进计算机微芯片的“内心”，创造了新的世界纪录。研究团队制作的高分辨率三维图像，有望推动信息技术和生命科学等领域取得显著进展。相关论文发表于新一期《自然》杂志。更多详情→http://t.cn/A68ry0MX（科技日报记者 刘霞，图片来源：《自然》）