半导体测试设备（ATE：自动测试设备）是一种通过对系统LSI和半导体存储器等被测器件的各个引脚施加电压和电流，以验证其是否能正常工作的系统。东芝推出两款用于半导体测试设备的光继电器“TLP3487”与“TLP3491”，在小型P-SON4封装中同时实现了高通态电流和低断态漏电流。点击链接查看产品详情~http://t.cn/AXanRxVf
发布于 上海
东芝半导体