【合见工软DFT平台再次革新：国产自研工具助力先进工艺及复杂架构芯片开发测试】中国数字EDA/IP龙头企业上海合见工业软件集团股份有限公司宣布其可测性设计（DFT）全流程平台UniVista Tespert系列推出两款全新工具——面向 SoC 芯片的全自动扫描链插入与可测试性优化工具UniVista Tespert SCAN，以及IEEE 1687 IJTAG 测试集成软件工具UniVista Tespert IJTAG。http://t.cn/AXSdZHCW #张国斌的芯发布#