【三星HBM4E良率突破70% 第七代AI内存开发进入稳定阶段】三星电子首席技术官兼半导体研究所所长于6月30日在DS（器件解决方案）部门内部经营说明会上表示，HBM4E的可靠性测试良率已提升至70%以上。http://t.cn/AXo2Camv
东方财富网
【三星HBM4E良率突破70% 第七代AI内存开发进入稳定阶段】三星电子首席技术官兼半导体研究所所长于6月30日在DS（器件解决方案）部门内部经营说明会上表示，HBM4E的可靠性测试良率已提升至70%以上。http://t.cn/AXo2Camv