麻省理工科技评论
26-07-21 10:47 微博认证:《麻省理工科技评论》杂志官方微博

【AI芯片散热迎来新希望?科学家首次造出理论中的金属材料,导热率是铜的3倍】

AI 的发展正在不断推高全球对算力的需求,随着以#英伟达# (NVIDIA)为代表的高端 AI 加速器功耗快速攀升,数据中心的机架功率密度将被推至 300 千瓦级别。

巨大能耗之下,散热成为不容忽视的关键问题:#芯片# 消耗的电能几乎全部以热的形式耗散出来。而在目前的芯片热传导路径中,铜是散热扩散层、热管、蒸汽腔和封装基板的主力材料,导热率约为 400 瓦每米每开尔文(W/m·K)。一个世纪以来,这就是金属导热的真实性能上限。

今年年初,加利福尼亚大学洛杉矶分校(UCLA)萨缪利工程学院的胡永杰教授团队在《科学》(Science)发文,他们造出一种曾经只存在于理论中的金属材料:θ 相氮化钽(θ-TaN)单晶。实验发现,该材料的室温导热率可达 1,100 W/m·K 左右,接近铜的三倍。

1950 年代,德国化学家布劳尔(Brauer)等人在高温高压条件下发现,TaN 存在一种 θ 相。近年来,学界预测,θ-TaN 具备远超常规金属的本征导热率,潜在值接近金刚石和砷化硼。但此前有关 θ-TaN 的研究都停留在理论层面,高质量 θ-TaN 晶体始终未被造出,其导热性能也无从验证。

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