香山团队的徐易难博士，在希腊举办的2026年度MICRO学术会议的Distinguished Paper Session介绍芯片敏捷验证方法DiffTest-L。

DiffTest是一套处理器差分验证工具，最早是余子濠博士设计并用来打“龙芯杯”比赛。2019年被用在第一期“一生一芯”中，进而被5位国科大本科生带到了香山的开发中，并持续完善和增强。如今，DiffTest已经发展成系列工具，粗略估计解决了三代香山开发过程中超过1000个bug。

有趣的是，DiffTest似乎和MICRO这个学术会议特别有缘：
- DiffTest基础版，发表在2022年MICRO，并入选了IEEE Micro Top Picks；
- DiffTest-H，发表在2025年MICRO；
- DiffTest-L，则发表在今年MICRO，并入选Distinguished Paper Session。