【电性失效分析国产全系列通关！#LUXET VERITAS微光显微镜及激光诱导电阻变化（EMMI+OBIRCH）二合一显微镜正式发布#！】#微光显微镜##集成电路[超话]#

6月15日，安徽凌光红外科技有限公司LUXET VERITAS微光显微镜及激光诱导电阻变化（EMMI+OBIRCH）二合一显微镜正式全球首发。这款国内首创的集成化电性失效分析设备，标志着凌光红外跻身全球第五家掌握该类产品核心技术并成功量产的企业，产品综合性能对标国际头部品牌，位居全球前二，将有力破解我国高端半导体检测设备“卡脖子”难题，为集成电路产业自主可控注入强劲动能。
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