【新型成像方法为LED材料研究带来全新见解】研究人员展示了一种识别微小晶体缺陷的有效方法，这些缺陷会降低LED材料的效率。这一进展有助于科学家更深入地理解这些缺陷的形成机制，并最终助力开发更高效的电子和光电器件...http://t.cn/AX99pBW1 _新浪新闻

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26-07-24 09:30 微博认证：光行天下社区（www.opticsky.cn）官方微博

【新型成像方法为LED材料研究带来全新见解】研究人员展示了一种识别微小晶体缺陷的有效方法，这些缺陷会降低LED材料的效率。这一进展有助于科学家更深入地理解这些缺陷的形成机制，并最终助力开发更高效的电子和光电器件...http://t.cn/AX99pBW1

发布于四川