台式扫描电子显微镜JCM-7000

JCM-7000 台式扫描电子显微镜（Benchtop SEM） ，核心定位为 “ 易操作、高效率 ” 的微观分析工具，主打 “光学图像与 SEM 图像无缝衔接 ”“ 实时分析 ” 及 “无需复杂样品预处理 ”，可满足工业质检、科研筛选等场景需求 。支持从光学图像自动切换至 SEM 图像（Zeromag 功能），SEM 观察与元素分析同步进行（Live Analysis） ，无需镀金等预处理即可观察绝缘样品（低真空模式） ，操作流程简化，适合非专业人员快速上手；拥有异物分析、质量控制、样品筛选，覆盖金属、食品、 电子元件、矿物、纤维等多类样品。

产品组成
（1）核心部件
主机系统：JCM-7000主体机身包含集成电子光学系统、探测器；
真空系统：全自动真空系统（含涡轮分子泵TMP × 1、旋转泵 RP × 1）；
辅助设备：旋转泵、电源箱（适配多电压规格）；
样品台：X-Y 电动驱动样品台（标配）。
（2）扩展部件
定位与观察配件： 载物台导航系统、倾斜旋转电动载物台（倾斜角度 - 10 °~+45 ° , 旋转 360°） ;
分析系统：EDS（能量色散 X 射线光谱仪，用于元素分析）；
软件：颗粒分析软件（需搭配 EDS 使用） 、3D 分析软件；
样品预处理设备：样品镀膜机 DI-29010SCTR（用于绝缘样品镀膜，适配高真空二次电子成像）。