#曝苹果正测试iPhoneDuo第二代原型机#
初代iPhone Duo：取消Face ID，改用侧边按键Touch ID，是全网最大槽点。
二代原型机：测试外屏屏下Face ID，把整套点阵投影+红外传感器全部藏在外屏底下，做到外屏无开孔、全面屏形态。
关键风险：技术还没敲定；如果良率不达标，屏下Face ID会顺延到第三代机型才落地。
其他原型机改动：
新增Action操作按钮，补齐和直板Pro机型的配置差距；
优化铰链结构，减少折痕、减轻机身重量；
升级长焦镜头，补齐初代只有双摄、缺少远摄的短板。
这次测试原型机，本质就是苹果在修正初代折叠iPhone最大的妥协项：把砍掉的Face ID重新装回来，并且做到屏下无开孔。