【IFWS&SSLCHINA 2026报告前瞻|上海微系统所郑理‌ ：电力电子器件缺陷解析与定量诊断】11月16-19日，第十二届国际第三代半导体论坛暨第二十三届中国国际半导体照明论坛（IFWS&SSLCHINA 2026）将在江苏苏州召开。中国科学院上海微系统与信息技术研究所研究员、硅基材料与集成器件实验室副主任郑理受邀将出席论坛，并在“氮化镓功率电子”分会上带来《电力电子器件缺陷解析与定量诊断》的主题报告。 http://t.cn/AXYvaQsb