【IFWS&SSLCHINA 2026报告前瞻|鲁欧智造周爱军：GaN HEMT瞬态热测试技术及可靠性探索】11月16-19日，第十二届国际第三代半导体论坛暨第二十三届中国国际半导体照明论坛（IFWS&SSLCHINA 2026）将在江苏苏州召开。鲁欧智造（山东）数字科技有限公司副总经理周爱军受邀将出席论坛，并将在“氮化镓功率电子”分会带来《GaN HEMT瞬态热测试技术及可靠性探索》的主题报告。 http://t.cn/AXYvK6M0